单片机实验与实践教程 3

1 (p0-1): 第1章 实验仪功能简介
1 (p0-2): 1.1 电路外观
2 (p0-3): 1.2 功能特点
3 (p0-4): 1.3 实验项目
4 (p0-5): 1.4 主要功能块
6 (p0-6): 1.5 TKSMonitor51仿真器说明
6 (p0-7): 1.5.1 DP-51PROC下载工作方式
6 (p0-8): 1.5.2 DP-51PROC运行工作方式
7 (p0-9): 第2章 DP-51PROC快速入门
7 (p0-10): 2.1 Keil C51简介
9 (p0-11): 2.2 Keil C51的安装
9 (p0-12): 2.2.1 系统要求
9 (p0-13): 2.2.2 软件的安装
12 (p0-14): 2.3 μVision2集成开发环境
12 (p0-15): 2.3.1 μVision2集成工具
13 (p0-16): 2.3.2 菜单栏命令、工具栏和快捷方式
18 (p0-17): 2.4 Keil C51的使用
18 (p0-18): 2.4.1 创建第一个Keil C51应用程序
27 (p0-19): 2.4.2 程序文件的编译和链接
30 (p0-20): 2.5 调试仿真功能的使用
30 (p0-21): 2.5.1 如何进入调试状态
32 (p0-22): 2.5.2 调试状态的存储器模型
33 (p0-23): 2.5.3 调试前的准备工作
36 (p0-24): 2.5.4 实战
41 (p0-25): 2.6 脱机运行之FLASH运行
41 (p0-26): 2.6.1 如何进入运行状态
41 (p0-27): 2.6.2 运行状态的存储器模型
41 (p0-28): 2.6.3 运行程序实例
44 (p0-29): 2.7 脱机运行之ISP单片机运行
44 (p0-30): 2.7.1 如何进入ISP下载状态
44 (p0-31): 2.7.2 运行状态的存储器模型
44 (p0-32): 2.7.3 ZLGISP软件简介
45 (p0-33): 2.7.4 ZLGISP软件的安装方法
46 (p0-34): 2.7.5 ZLGISP软件的使用方法
50 (p0-35): 2.8 各功能模块的功能介绍
50 (p0-36): 2.8.1 A1区ISP下载电路
51 (p0-37): 2.8.2 A2区MCU总线接口及I/O口连接区
52 (p0-38): 2.8.3 A3区138译码电路
52 (p0-39): 2.8.4 A4区并转串实验电路
53 (p0-40): 2.8.5 A5区串转并实验电路
53 (p0-41): 2.8.6 A6和A7区PARK扩展
54 (p0-42): 2.8.7 B1区语音实验区
54 (p0-43): 2.8.8 B2区非接触式IC卡实验区
56 (p0-44): 2.8.9 B3区LCD实验区
57 (p0-45): 2.8.10 B4区数字温度采集实验区
57 (p0-46): 2.8.11 B5区蜂鸣器实验区
57 (p0-47): 2.8.12 B6区PWM电压转换实验区
58 (p0-48): 2.8.15 B9区串行数／模转换实验区
58 (p0-49): 2.8.14 B8区串行模／数转换实验区
58 (p0-50): 2.8.13 B7区电压基准源
59 (p0-51): 2.8.16 B10区直流电机实验区
60 (p0-52): 2.8.17 C1区电压接口区
60 (p0-53): 2.8.18 C2区逻辑笔
60 (p0-54): 2.8.19 C3区LED点阵实验模块
62 (p0-55): 2.8.20 C4区运算放大器电路实验区
62 (p0-56): 2.8.21 C5区电阻接口区
62 (p0-57): 2.8.22 C6区555电路实验区
63 (p0-58): 2.8.23 C7区继电器及其驱动电路
63 (p0-59): 2.8.24 C8区步进电机实验区
64 (p0-60): 2.8.25 D1区独立控制的LED、拨动开关、键盘实验区
66 (p0-61): 2.8.26 D2区电位器实验区
66 (p0-62): 2.8.27 D3区红外收发实验区
67 (p0-63): 2.8.28 D4区RS485实验区
67 (p0-64): 2.8.29 D5区I2C实验区
67 (p0-65): 2.8.30 D6区接触式IC卡实验区
70 (p0-66): 3.1 实验1——Keil C51集成开发环境的使用练习
70 (p0-67): 第3章 DP-51PROC单片机实验
71 (p0-68): 3.2 实验2——基于Keil C51集成开发环境的仿真与调试
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